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@takehiro_t 2000年前半に、日本アイ・ビー・エムの森由美さんらが、"むら"の定量化で活躍をされており、SEMIで輝度ムラの計量単位として"SEMU (SEMI MURAの略称)"が採用されました。 ディスプレイの不定形ムラ評価法に関する実験的検討 https://t.co/YSsYWqPfYe

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