著者

山本 直紀

出版者

The Crystallographic Society of Japan

雑誌

日本結晶学会誌 (ISSN:03694585)

巻号頁・発行日

vol.39, no.4, pp.279-288, 1997-08-30 (Released:2010-09-30)

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This article gives fundamentals of analyzing electron diffraction patterns for persons who start to use an transmission electron microscope.