Ceek.jp Altmetrics (α ver.)
文献ランキング
合計
1ヶ月間
1週間
1日間
文献カレンダー
新着文献
すべて
2 Users
5 Users
10 Users
新着投稿
Yahoo!知恵袋
レファレンス協同データベース
教えて!goo
はてなブックマーク
OKWave
Twitter
Wikipedia
検索
ウェブ検索
ニュース検索
ホーム
文献詳細
4
0
0
0
OA
半導体プロセスのCMP技術
著者
辻村 学
出版者
公益社団法人 精密工学会
雑誌
精密工学会誌
(
ISSN:09120289
)
巻号頁・発行日
vol.83, no.3, pp.220-223, 2017-03-05 (Released:2017-03-05)
参考文献数
8
被引用文献数
3
言及状況
変動(ピーク前後)
変動(月別)
分布
外部データベース (DOI)
3
Mendeley
DOI Chronograph
Google Scholar
Twitter
(4 users, 4 posts, 26 favorites)
これ? https://t.co/BKKoFyBQPo https://t.co/v8PreoRAuk
半導体CMPダイヤモンドパッドコンディショナー{CMP Pad Conditioner (diamond disk)}は、半導体の化学機械研磨プロセスで使用され、パッドをトリミングして、必要な除去率と平坦度を実現します 半導体CMPプロセス https://t.co/Fpg95vEkqL
CMPの神様 荏原の辻村さんの記事をリンクするポヨ CMPをプロセスに採用することで表面がフラットになり露光装置の焦点深度にマージンが増え微細化進展に寄与しましたが、CMP専用室が必要で使い勝手が悪かったポヨ それを荏原がドライイン/ドライアウトを実用化したポヨ https://t.co/VbTz5SZ84z https://t.co/gfW4Im1p1G
収集済み URL リスト
https://www.jstage.jst.go.jp/article/jjspe/83/3/83_220/_pdf
(4)