著者
酒井 朗 碓井 彰
出版者
公益社団法人 応用物理学会
雑誌
応用物理 (ISSN:03698009)
巻号頁・発行日
vol.68, no.7, pp.774-779, 1999-07-10 (Released:2009-02-05)
参考文献数
15
被引用文献数
3

マスク材を表面に部分的に形成して成長を行う選択横方向成長方法により,転位密度の少ない高品質窒化ガリウムが得られた.成長手法として八イドライド気相成長を用いたが,成長初期の段階で安定なファセット構造が出現し,成長モードが変化することに対応して,転位がその伝播方向を変えることが断面透過電子顕微鏡観察で見い出された.窒化ガリウム中の転位構造とその挙動を詳細に観察し・選択横方向成長による転位削減機構を探る.

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"成長初期に~ファセット構造に起因して,従来のELOでは報告されていない 「転位の曲がり」が~転位密度削減に大きく貢献" "本論文では~FIELO(Facet-Initiated Epitaxial Lateral Overgrowth)と呼ぶ" GaN選択横方向成長による転位密度の低減|酒井朗・碓井彰 応用物理1999年68巻 https://t.co/yAleNI2aRM https://t.co/NQno80GV5r
@negitts 自分もうろ覚えだったので文献を探したのですが、20年くらい前には公知の技法だったみたいですね 門外漢なので的外れかもしれませんが、マスクしてる割合とかでELOが上手くできるかつ剥離もしやすい条件を見つけた、ということかなと思っています https://t.co/tEbUNDLF7W

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