Ceek.jp Altmetrics (α ver.)
  1. ホーム
  2. 文献詳細

1 0 0 0 分析技術 TOF-SIMSと低角斜め切削法を用いたサブミクロン高分子薄膜の組成分析 (評価技術特集)

著者
服部 秀男 山崎 秀樹
出版者
日東電工
雑誌
日東電工技報 (ISSN:13482475)
巻号頁・発行日
vol.45, no.1, pp.68-71, 2007

言及状況

Twitter (1 users, 2 posts, 0 favorites)

収集済み URL リスト