Ceek.jp Altmetrics (α ver.)
  1. ホーム
  2. 文献詳細

1 0 0 0 セマンティックセグメンテーションによる製品外観検査アルゴリズムの検討

著者
半澤 雄希 池田 泰之 栗田 真嗣 長谷川 友紀
出版者
画像センシング技術研究会
雑誌
第25回画像センシングシンポジウム
巻号頁・発行日
2019-04-08

言及状況

Twitter (1 users, 1 posts, 0 favorites)

本日、SSII（画像センシングシンポジウム）にて、センシング研究開発センタの半澤雄希が「セマンティックセグメンテーションによる製品外観検査アルゴリズムの検討」について発表します。 13:30～ショートオーラルセッション3 14:15～インタラクティブセッション3 https://t.co/VqkesV4qj2 #SSII

収集済み URL リスト