- 著者
- 坂本 優 木村 元一 黒沼 昭宏 宮川 直子 村山 弘
- 出版者
- 公益社団法人日本放射線技術学会
- 雑誌
- 日本放射線技術學會雜誌 (ISSN:03694305)
- 巻号頁・発行日
- vol.49, no.2, 1993-02-01
- 被引用文献数
- 1
測定する部分の直径4mm以外はIPを黒く塗って測定した結果、散乱線含有率が低下した。強いX線が照射された場合はレーザー光が散乱し、測定している近傍から出る発光があると報告されているが、そうでない場合も同じ現象が起きていると示唆される。純粋に散乱線含有率を求めるのであれば、蛍光量計を使用した方が容易で値も真の値に近い。CR法では散乱線以外の因子も付加されるのでグリッドの評価には不向きである。しかしCR画像の評価を行う上では、直接線以外の散乱線、システムノイズ等は画像を劣化する因子であるとすると、実際に画像が作られるのと同じシステムで測定した値が重要であろう。尚ここで述べた散乱線含有率は本来の定義から外れているが適当な用語が無く画像上の散乱線も含む直接線以外のノイズが含まれる割合として用いた。