Ceek.jp Altmetrics (α ver.)
  1. ホーム
  2. 文献一覧: 著:コンスタンツェ・ ドンナー (著者)
  3. 1件

1 0 0 0 最先端の表面・界面評価技術 微小電極を用いた走査電気化学顕微鏡~その将来的可能性~:~その将来的可能性~

著者
著:コンスタンツェ・ ドンナー 訳:村主 欣久
出版者
The Surface Finishing Society of Japan
雑誌
表面技術 (ISSN:09151869)
巻号頁・発行日
vol.59, no.12, pp.876-881, 2008
被引用文献数
1