著者

勝連城二 永久 龍彦 山本 崇夫 長岡 恭弘 米澤 浩和 冨田 泰弘 渡里 滋 國信 茂郎

雑誌

情報処理学会研究報告計算機アーキテクチャ(ARC)

巻号頁・発行日

vol.1990, no.51(1990-ARC-062), pp.1-6, 1990-06-22

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RISC型マイクロプロセッサ(105)は、SPARCアーキテクチャを採用した64ビットMPUでその高機能化及び高集積化を実現することにより1チップ内のトランジスタ数は約100万個に達する。その内部は、整数演算、浮動小数点演算、命令キャッシュ、データキャッシュ、メモリ管理及びバスコントロールの6個の機能モジュールから構成され、40MHzの動作周波数で、40MIPS/20MFLOPSのピーク性能を達成している。このような大規模なチップの開発において我々は、テスト容易化設計によるテスティングの効率化や高速な内部信号のタイミングの検益のための新たな故障解析手法を採用し、さらにMPUのテス卜・デバッグをより効率的にかつ高度に解析可能な環境としてEBテスタを中心とするテスト・デバッグシステムを構築した。