BCS@人生は大変だ。。。 (@BCS1957)

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半導体製造におけるパターンの寸法測定に使われているのがCD-SEM。技術の進歩ってすごいね。 (参考) 「CD-SEMによる微細寸法計測技術」大高 正, 川田 洋揮, 宍戸 千絵, 大崎 真由香: 表面科学 27, 636 (2006) http://t.co/qQoPwY04
半導体製造におけるパターンの寸法測定に使われているのがCD-SEM。技術の進歩ってすごいね。 (参考) 「CD-SEMによる微細寸法計測技術」大高 正, 川田 洋揮, 宍戸 千絵, 大崎 真由香: 表面科学 27, 636 (2006) http://t.co/qQoPwY04
とりあえず図を見て「あぁー」となったものの、あまりよく理解出来ない・・・(´・ω・`) スピン三重項だから強磁性スピン揺らぎの超伝導なのか。。。 http://t.co/kPgk8gTn

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