著者

西本 昌彦 木村 優祐 西田 健 田中 貴章

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会技術研究報告. MW, マイクロ波 (ISSN:09135685)

巻号頁・発行日

vol.106, no.186, pp.199-204, 2006-07-20

参考文献数

4

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波動散乱現象は表面の粗さによって大きく変化するため,反射・散乱を利用した各種光デバイスやセンシング技術では,その表面の不規則性が特性に大きな影響を及ぼす.このため,実際に表面を計測したデータから,表面の粗さのパラメータを推定しておく必要がある.しかし,この推定には計測データの不完全性に伴う推定誤差が含まれる.本報告では,実際に粗面の平均自乗高さ及び相関長を推定する場合に,どの程度のデータ記録長やサンプル数が必要であるのかを統計的な誤差評価によって検討する.また,モンテカルロシミュレーションにより確認する.前回の報告では相関関数から相関長を推定したが,今回は粗面のスロープから直接推定している.