エントロピ-法による反転X線フイルムの粒状性の評価 - 文献詳細 - Ceek.jp Altmetrics

1 0 0 0 エントロピ-法による反転X線フイルムの粒状性の評価

著者: 藤田広志石井健裕宮田伸二福井政次横山三吉
出版者: Medical Imaging and Information Sciences
雑誌: 放射線像研究 (ISSN:21870233)
巻号頁・発行日: vol.10, no.1, pp.38-45, 1980

2017-07-19 20:31:06
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