- 著者
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木村雅秀
- 出版者
- 日経BP社
- 雑誌
- 日経エレクトロニクス (ISSN:03851680)
- 巻号頁・発行日
- no.1067, pp.65-72, 2011-10-17
- 被引用文献数
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「この結果には、正直驚いた。期待していた以上の効果だった」─。新しい試験技術「HALT(highly accelerated life test)」の実力を評価した国内大手電機メーカーA社の技術者は驚きを隠さない。 A社はHALTの評価を2011年6月に実施した(図1)。試験対象には、大手ベンダーから購入した2種類のSSD「SSD-1」「SSD-2」を用いた。