位相差方式レーザスキャナを搭載したMMSによる側壁の円盤層厚検出精度に関する研究 : 第32回応用測量論文奨励賞受賞論文の紹介 - 文献詳細 - Ceek.jp Altmetrics

1 0 0 0 位相差方式レーザスキャナを搭載したMMSによる側壁の円盤層厚検出精度に関する研究 : 第32回応用測量論文奨励賞受賞論文の紹介

著者: 笹野拓海大木亜美藤村大輔山口裕哉白石宗一郎岡本直樹岩上弘明佐田達典江守央
出版者: 日本測量協会
雑誌: 測量 = The journal of survey : 地理空間情報の科学と技術 (ISSN:02857790)
巻号頁・発行日: vol.71, no.11, pp.16-19, 2021-11

2021-12-01 01:43:29
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