Ceek.jp Altmetrics (α ver.)
文献ランキング
合計
1ヶ月間
1週間
1日間
文献カレンダー
新着文献
すべて
2 Users
5 Users
10 Users
新着投稿
Yahoo!知恵袋
レファレンス協同データベース
教えて!goo
はてなブックマーク
OKWave
Twitter
Wikipedia
検索
ウェブ検索
ニュース検索
ホーム
文献詳細
1
0
0
0
OA
Important of MoS<sub>2</sub>-Compound Sputtering even with Sulfur-Vapor Anneal for Chip-Size Fabrication
著者
Shinya - Imai
Takuya - Hamada
Masaya - Hamada
Takanori - Shirokura
Iriya - Muneta
Kuniyuki - Kakushima
Tetsuya - Tatsumi
Shigetaka - Tomiya
Kazuo - Tsutsui
Hitoshi Wakabayashi
雑誌
2020 International Conference on Solid State Devices and Materials
巻号頁・発行日
2020-08-31
言及状況
変動(ピーク前後)
変動(月別)
分布
外部データベース (DOI)
0
Mendeley
DOI Chronograph
Google Scholar
Twitter
(1 users, 1 posts, 0 favorites)
2020 International Conference on Solid State Devices and Materials /Important of MoS<sub>2</sub>-Compound Sputtering even with Sulfur-Vapor Anneal for Chip-Size Fabrication https://t.co/VvPArKFBbk
収集済み URL リスト
https://confit.atlas.jp/guide/organizer/ssdm/ssdm2020/subject/H-2-03/search;jsessionid=447EB1F936881D9B38F6542A04F1E582?eventCode=ssdm2020&subjectCode=H-2-03
(1)