著者

板東 義雄 三友 護 松井 良夫 関川 喜三 飯島 澄男

出版者

一般社団法人 日本物理学会

雑誌

春の分科会予稿集

巻号頁・発行日

vol.1982, 1982

著者

松井 良夫

出版者

The Crystallographic Society of Japan

雑誌

日本結晶学会誌 (ISSN:03694585)

巻号頁・発行日

vol.39, no.2, pp.157-167, 1997-04-28 (Released:2010-09-30)

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This article is the first introduction to transmission electron microscopy (TEM) for beginners interested in the crystal structure analysis by means of electron diffraction and highresolution electron microscopy. Brief history of TEM, basic arrangements of TEM instruments, how to obtain selected area electron diffraction patterns, and how to prepare specimen by “crushing method”, are described.