著者

北本 俊二 森井 幹雄

出版者

立教大学

雑誌

基盤研究(B)

巻号頁・発行日

2007

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補償光学を使用したX線望遠鏡を開発し、X線による撮像実験を行った。補償用の参照光源と撮像する物体との行路差を補正する方法を適用し、分解能を改善させることができた。その結果、1.55秒角の角度分解能を達成した。また、X線干渉計を製作するための検討を行った。X線用として有望な形状で可視光実験を行い、必要精度等を検証した。その結果、ピエゾ素子等を使うことでX線干渉計が作成可能という結論を得た。