著者

浅野 浩延

出版者

日経BP社

雑誌

日経エレクトロニクス (ISSN:03851680)

巻号頁・発行日

no.1115, pp.72-76, 2013-08-19

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SSDの代表的な不具合事例が三つある。OS起動用に利用しているSSDでのデータ破損や消失、MLC(multi-level cell)のNANDフラッシュ・メモリを採用したSSDのパラドックスによるもの、そしてRAID技術への過信によるものである。 このうち、最近特に多く見られるのが、OS起…