著者

石谷 炯

出版者

公益社団法人 高分子学会

雑誌

高分子 (ISSN:04541138)

巻号頁・発行日

vol.43, no.2, pp.90-93,97, 1994-02-01 (Released:2011-10-14)

参考文献数

8

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二次イオン質量分析法(SIMS)の分野で特にポリマー材料への応用が期待されている飛行時間型(Time of Flight) SIMS(TOF・SIMS)について原理,装置,分析能力,応用例について述べ,そのポテンシャルについて展望した.