- 著者
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林 善伸
篠塚 隆
- 出版者
- 一般社団法人電子情報通信学会
- 雑誌
- 電子情報通信学会技術研究報告. EMCJ, 環境電磁工学 (ISSN:09135685)
- 巻号頁・発行日
- vol.100, no.446, pp.25-30, 2000-11-10
携帯電話の普及に伴い、携帯電話の電波によるコンピュータなど電気・電子機器の誤動作が懸念される。今後もさらに携帯電話使用者の増加が見込まれるため、携帯電話による電子機器等への影響について検討する必要が出てきた。今回の測定の目的は、上記検討のために提供できる基礎的なデータを取得することである。測定は2箇所で行い、携帯電話周波数帯の電界強度の統計パラメータを測定した。その結果、測定中の最大電界強度は115dBμV/mであった。また、24時間のうち電界強度が90dBμV/mを超える時間率は、曜日、測定場所によらず約0.1%であった。さらに、確率密度関数について測定場所のモデル化による計算を行い実測値との比較を行った。