- 著者
-
蔭山 和則
須田 俊宏
- 出版者
- 一般社団法人 日本内科学会
- 雑誌
- 日本内科学会雑誌 (ISSN:00215384)
- 巻号頁・発行日
- vol.97, no.4, pp.743-746, 2008 (Released:2012-08-02)
- 参考文献数
- 7
- 被引用文献数
-
1
2
副腎機能低下症の原因には,原発性と続発性副腎機能低下症がある.続発性の原因には,視床下部性と下垂体性があり,原発性を含めた原因局在の決定のため負荷試験が有用である.一般的には,現在,corticotropin-releasing hormone(CRH)負荷試験とインスリン低血糖刺激試験(ITT)が行われることが多い.原発性副腎皮質機能低下症は,ACTH試験によって副腎皮質の予備能の低下を証明する必要がある.ストレス時の副腎皮質の予備能を評価しておくことは,副腎クリーゼ予防に重要である.それぞれの検査の意義を良く理解した上で,安全に行われるのが望ましい.