- 著者
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陣内 研一
- 出版者
- Japan Radioisotope Association
- 雑誌
- RADIOISOTOPES (ISSN:00338303)
- 巻号頁・発行日
- vol.31, no.3, pp.135-140, 1982
- 被引用文献数
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C<SUB>3</SUB>Hf/He系マウス頭部へのX線516mC/kg (2000R) , 1回照射による口腔組織上皮基底層の細胞動態を<SUP>3</SUP>H-チミジン標識を行うことにより, 細胞周期回転に関しては標識分裂細胞頻度 (PLM) 解析法によって, また, 基底細胞の分化相への移行は標識細胞の移行率の経時的変化によって調べた。舌上皮基底細胞では, 照射によりG<SUB>2</SUB>期および分化層への移行開始時間の遅れが起こる。しかし, 口唇粘膜では照射による障害が大きく基底細胞の増殖は著しく抑制された。