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OA
Below-gap励起蛍光法によるSiCの結晶欠陥評価
著者
磯野 秀明
出版者
東京大学大学院工学系研究科 電子工学専攻
巻号頁・発行日
2009-03-23
報告番号: ; 学位授与年月日: 2009-03-23 ; 学位の種別: 修士 ; 学位の種類: 修士(工学) ; 学位記番号: ; 研究科・専攻: 工学系研究科電子工学専攻
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@k_nex ちなみにこんな修論を書きました。http://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/dspace/handle/2261/28081 今はぜんぜん関係ない分野で仕事してます。どっちかって言うとパワーデバイスを使う側かな。
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http://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/dspace/handle/2261/28081
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