著者

上田 修

出版者

一般社団法人 電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会 基礎・境界ソサイエティ Fundamentals Review (ISSN:18820875)

巻号頁・発行日

vol.6, no.4, pp.294-304, 2013-04-01 (Released:2013-04-01)

参考文献数

25

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各種化合物半導体多層薄膜から作製されたLEDや半導体レーザといった半導体発光デバイスは,現在,社会,産業,家庭における様々なシステムや機器に搭載されている.このような発光デバイスは,機器への不適切な実装や過酷な条件での使用などで劣化し,機器やシステムの不具合や障害,事故の原因となる.そこで,本稿では,赤色・赤外デバイスを中心とした発光デバイスの種々の劣化モードについて,劣化メカニズム,解析事例,及び抑制方法について解説する.