著者

和田 哲明

出版者

日本信頼性学会

雑誌

日本信頼性学会誌 信頼性 (ISSN:09192697)

巻号頁・発行日

vol.31, no.8, pp.588-594, 2009-11-01 (Released:2018-01-31)

参考文献数

15

---

耐用寿命の予測及び製造工程での欠陥による初期不良の除去(スクリーニング)のために,短期間で実使用上ストレスを加速する加速信頼性試験が用いられている.この加速試験の考え方と能動部品(半導体),受動部品(実装基板),電池(リチウムイオン電池)での事例を紹介する.加速試験では,加速要因を明確にすると共に,加速限界を十分に注意しなければ誤った信頼性予測となることも示す.