- 著者
-
浅川 毅
金本 直之
出崎 善久
岩崎 一彦
- 出版者
- 一般社団法人情報処理学会
- 雑誌
- 情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告
- 巻号頁・発行日
- vol.99, no.12, pp.1-8, 1999-02-04
ATPGツールにより得られたテストベクトルの一部をシフトして得られるベクトルの集合を被テスト回路への入力とするテストパターン生成器(TPG)の提案を行う. 提案するTPGはシフトレジスタと少量のROMで構成される. ISCASベンチマーク回路に対して提案したTPGを適用した場合の100%の故障検出率を得るためのテスト長, 及びハードウェア量の評価を行った. また, 提案したTPGを使用した場合の100%の故障検出率を得るためのテスト長の式を導出し, 故障シミュレータにより得られたテスト長との比較を行った.