著者
藤井 研一 佐野 泰弘 大山 忠司 音 賢一 鷹岡 貞夫 邑瀬 和生 蒲生 健次
出版者
一般社団法人電子情報通信学会
雑誌
電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス (ISSN:09135685)
巻号頁・発行日
vol.100, no.642, pp.69-75, 2001-02-22

縦型結合ドット配列の遠赤外磁気光吸収測定において, 縦方向に結合した2つのドット中の電子の2本の共鳴吸収信号を観測した。この共鳴ピークのうち, 表面近傍に位置するドットからの共鳴ピークは光励起下ではシフトすることを観測し, このシフトがドット間の結合変化からの影響も含むことを示すことが出来た。光励起下でこのピークシフトの測定より, 縦型結合ドット中の電子状態への結合変化の影響を詳細に調べ, 議論する。

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こんな論文どうですか? 縦型結合ドット配列中の電子状態,2001 http://ci.nii.ac.jp/naid/110003201266 縦型結合ドット配列の遠赤外磁気光吸収測定において, 縦方向に結合した2つのドット中の電子の2本の共鳴吸収信号を観測した。この共鳴ピークのう

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