著者

ワーサリン ジュンスワディー 小林 和淑 小野寺 秀俊 田丸 啓吉

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会総合大会講演論文集

巻号頁・発行日

vol.1995, no.2, 1995-03-27

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半導体メモリの集積度が年々上昇するにつれて,そのテストにかかるコストも増加する.そのために通常のメモリセルに何らかの工夫をして、テストを高速化させる.また,簡単な機能をメモリに持たせてデジタルシステム全体のパフォーマンスを上げる研究も行われている.我々はビット並列ブロック並列(BPBP)型機能メモリ型並列プロセッサ(FMPP)を設計製造した.ここでは,そこで用いられたテスト容易化設計法のうち,FMPPの中核をなす機能メモリ部の高速なテスト方法について報告する.