著者
田丸 啓吉
出版者
一般社団法人情報処理学会
雑誌
情報処理 (ISSN:04478053)
巻号頁・発行日
vol.40, no.8, pp.783-788, 1999-08-15
被引用文献数
7
著者
ワーサリン ジュンスワディー 小林 和淑 小野寺 秀俊 田丸 啓吉
出版者
一般社団法人電子情報通信学会
雑誌
電子情報通信学会総合大会講演論文集
巻号頁・発行日
vol.1995, no.2, 1995-03-27

半導体メモリの集積度が年々上昇するにつれて,そのテストにかかるコストも増加する.そのために通常のメモリセルに何らかの工夫をして、テストを高速化させる.また,簡単な機能をメモリに持たせてデジタルシステム全体のパフォーマンスを上げる研究も行われている.我々はビット並列ブロック並列(BPBP)型機能メモリ型並列プロセッサ(FMPP)を設計製造した.ここでは,そこで用いられたテスト容易化設計法のうち,FMPPの中核をなす機能メモリ部の高速なテスト方法について報告する.