- 著者
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土屋 隆
横山 和也
小林 達郎
- 出版者
- 一般社団法人電子情報通信学会
- 雑誌
- 電子情報通信学会技術研究報告. EMD, 機構デバイス (ISSN:09135685)
- 巻号頁・発行日
- vol.99, no.578, pp.7-13, 2000-01-21
各種メータ等の検針システム内で使用されるリードスイッチの磁石のバックラッシュに起因する誤作動を改善するために、感動値15AT以上において感動値と開放値との差(PI-DO)が5.5AT以上となるワイドディファレンシャルタイプのリードスイッチ設計を行った。 現在量産されている汎用型リードスイッチの寸法を基に、バネ部の厚さ、接点部の厚さ、オーバラップ、及び接点メッキ厚さについてシミュレーションを行った。その結果、開発目標を満足するリードスイッチの設計ができた。