著者
佐久真 源太 島尻 寛之 吉田 たけお
出版者
一般社団法人電子情報通信学会
雑誌
電子情報通信学会技術研究報告. VLD, VLSI設計技術 (ISSN:09135685)
巻号頁・発行日
vol.103, no.145, pp.109-114, 2003-06-20
被引用文献数
4

本稿では,パス遅延故障のテストに用いられている2パターンテストの考えを応用した,パス遅延故障を検出可能な順序回路の構成法について示す.パス遅延故障は順序回路のレジスタの値に影響を及ぼすことから,レジスタの値を観測することにより,パス遅延故障を検出することが可能と考えられる.そこで本稿では,順序回路に対するパス遅延故障の検出条件について検討する.また順序回路に対して,この条件を満たす状態遷移図や状態割り当ての方法を提案する'さらに,提案した方法を用いたパス遅延故障を検出可能な順序回路の設計例を示す.

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こんな論文どうですか? パス遅延故障を検出可能な順序回路の構成法(信号処理,LSI,及び一般)(佐久真 源太ほか),2003 http://t.co/J2kcCYdSDG

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