著者

伊藤 浩 松山 隆司

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会論文誌. A, 基礎・境界 (ISSN:09135707)

巻号頁・発行日

vol.86, no.7, pp.758-771, 2003-07-01

被引用文献数

3

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折返しひずみやブロックひずみなどによって生じる符号化画像のエッジの劣化を,その形状の変化に基づいて定量化する方法を提案する.本来滑らかな部分に変化が発生すると人間は素早くそれを検知することができる.従来の信号差分に基づく手法では,連続性や一様性が変化する幾何学的なひずみを評価することが困難であった.本手法では,原画像と符号化画像に対して互いに対応するエッジセグメントを求め,その曲率に基づいて,形状の劣化を定量化する.得られた尺度が主観と一致するように,定量化の過程で,1)形状変化の空間的な大きさ,2)形状誤差のマスキング効果,3)エッジのこう配(コントラスト)の影響を考慮する.いくつかの標準画像に対して,符号化レートと符号化方式を変えて行ったシミュレーションでは,画像の印象をよく反映した結果が得られた.