MR画像による性能評価(第1報)ウェッジ法によるスライス厚測定とその問題点 - 文献詳細 - Ceek.jp Altmetrics

1 0 0 0 MR画像による性能評価(第1報)ウェッジ法によるスライス厚測定とその問題点

著者: 山崎勝東田満治井上博志林浩二小倉明夫大竹野浩史本郷隆治
出版者: 公益社団法人日本放射線技術学会
雑誌: 日本放射線技術學會雜誌 (ISSN:03694305)
巻号頁・発行日: vol.53, no.1, 1997-01-20
被引用文献数: 3

2009-12-03 23:00:08
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https://ci.nii.ac.jp/naid/110003437559

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