広域分散システムにおいて,多数のノードが単一の原因によって同時に障害に見舞われるケースがある.そのようなケースは相関障害(correlated failure)と呼ばれている.本論文では,大きなデータを分割して複数のノードに分散配置する場合に,それぞれの配置が相関障害に対してどのような耐性を持っているかを評価する方法について論じる.各ノードが保持する複製数が高々2の場合は,複製配置を置換群の元として解釈することで,その元の持つ互いに素な巡回置換の分割によって耐性を評価することができる.この結果より,分散システムによく見られるランダムな配置やシーケンシャルな配置よりも耐性の高い配置があり得ることを示す.There are cases where a single cause brings simultaneous failures on many nodes in a widearea distributed system. Such cases are called correlated failures. In this paper, we describe our ongoing work for developing a method that can evaluate impact that a data placement used in a distributed storage system against tolerance to correlated failures. In cases that the number of data fragments that each node can hold is at most 2, a data placement can be interpreted as a member of a permutation group. We developed a method to calculate the tolerance of a data placement based on the structure of coprime circular permutations in the equivalent permutation of the placement. Using the method, we show that there can be better placements than random placement or sequential placement, which are commonly used in existing wide-area distributed systems.