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電傾効果における層構造と分子配向の動的微小領域X線回折法による評価
著者
飯田 厚夫
高橋 由美子
高西 陽一
中田 未知
石川 謙
竹添 秀男
出版者
一般社団法人 日本液晶学会
雑誌
日本液晶学会討論会講演予稿集
(
ISSN:18803490
)
巻号頁・発行日
vol.2004, pp.156, 2004
SmA層における電傾効果についてこれまで時間分解マイクロビームX線回折法により局所構造の空間的変動とその電場に対する時間応答を解析してきたが、今回は高角に現れるハローパターンの測定解析を行い、層内の分子配向の空間的変動とその電場応答を解析しこれまでの結果と比較検討を行った結果について報告する。
言及状況
変動(ピーク前後)
変動(月別)
分布
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こんな論文どうですか? 電傾効果における層構造と分子配向の動的微小領域X線回折法による評価(飯田 厚夫ほか),2004 https://t.co/JgFHFLlVkK
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https://ci.nii.ac.jp/naid/130005043535
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