1 0 0 0 OA 集積回路におけるシングルイベント効果の評価とソフトエラー耐性向上手法の提案
- 著者
- 古田 潤
- 出版者
- 京都大学 (Kyoto University)
- 巻号頁・発行日
- 2014-03-24
新制・課程博士
1 0 0 0 OA SOIを用いた電力・遅延オーバヘッドの少ない耐ソフトエラーフリップフロップの提案
- 著者
- 古田 潤
- 出版者
- 京都工芸繊維大学
- 雑誌
- 研究活動スタート支援
- 巻号頁・発行日
- 2014-08-29
65nmのFD-SOIプロセスを用いて設計した非冗長フリップフロップの放射線起因のエラーの測定を中性子を照射する加速試験により行った。提案回路であるSLCCFFは通常のFFよりも耐性が高く、特に0.4Vと低い動作電圧では約30倍のソフトエラー耐性を持つことを確認した。この値は従来の放射線耐性回路であるstacked FFと等しい値である。SLCCFFは動作速度の点で従来回路よりも優れている。