著者
大森 義明 ライト オードリ
出版者
横浜国立大学
雑誌
基盤研究(C)
巻号頁・発行日
2008

Han and Hausman(1990)とMeyer(990)により提案されたのと似た,柔軟なパラメトリック・ベースラインハザードを持つ比例ハザードモデル(PHM)にYamaguchi(198)の固定効果最大尤度法(FEML)を拡張する.この手法を用い,米国の若い男性のサンプルの勤続年数モデルを推定し,観察不可能な固定効果を考慮し損なうと,教育の負の効果に下方バイアスが生じることを示す.