- 著者
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小西 秀明
岡埜 靖
山村 一之
唐沢 直子
板矢 剛一
熊谷 淳子
江守 道明
相京 隆
平出 貴久
- 出版者
- 一般社団法人電子情報通信学会
- 雑誌
- 電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム (ISSN:09135685)
- 巻号頁・発行日
- vol.101, no.658, pp.9-15, 2002-02-15
LSIのテストで高い縮退故障の検出率を得るためには,スキャン設計された回路についてデターミニスティックなテスト生成手法を用いるのが一般的である.しかし,回路規模が増加すると,テストデータ量も増加し,これがテストコストの増加につながる.テストデータ量を減らすためにはBIST手法が有効であるが,故障検出率が十分でなかったり,テストポイント挿入が必要だったりする.本研究では,テスト生成技術とBIST技術を応用し,テストコストを削減する新手法を提案する.本方法を実際の回路に適用した結果,高い故障検出率を維持しながらも,テストデータ量とテスト時間を約1/10に削減することができた.