著者

新井 豊子

出版者

公益社団法人 日本表面真空学会

雑誌

表面と真空 (ISSN:24335835)

巻号頁・発行日

vol.61, no.10, pp.632-638, 2018-10-10 (Released:2018-10-10)

参考文献数

25

---

Frequency modulation atomic force microscopy (FM-AFM) can simultaneously detect the conservative and non-conservative force interactions between a tip and a sample, based on the resonance frequency shift (Δf) and the mechanical energy dissipation of an oscillating cantilever, respectively. Here, we outline the energy dissipation measured by FM-AFM and introduce our recent results obtained through measurement of the energy dissipation. First, surface resistances can be evaluated in non-contact using the proportional relationship between the energy dissipation due to Joule heat and Δf due to the electrostatic attractive force. Second, Si adatoms on a Si(111)-(7×7) surface, which are observed to be static by FM-AFM, can move back and force between their stable sites and their neighboring quasi-stable sites, detected by measuring of the energy dissipation.

著者

新井 豊子 富取 正彦 村田 英幸

出版者

金沢大学

雑誌

基盤研究(B)

巻号頁・発行日

2008

---

本研究は、独自開発した電圧印加非接触原子間力顕微鏡/分光法(Biasnc-AFM/S)を発展させ、試料表面上の原子と探針先端原子との間の結合形成の過程・電子状態の変化を明らかにすることを目的とした。このために高感度力センサーの開発、電子回路の高感度化により探針試料間相互作用力、電流、エネルギー散逸の高感度同時計測を実現した。シリコン-シリコン原子間の共有結合力は、局所電子状態密度に強く依存していることを明らかにした。