文献一覧: 片平真哉 (著者) - Ceek.jp Altmetrics

1 0 0 0 SiCエピ膜から得られるμ-PCDおよびTR-PL減衰曲線の比較

著者: 加藤正史片平真哉
出版者: 応用物理学会
雑誌: 2020年第67回応用物理学会春季学術講演会
巻号頁・発行日: 2020-01-28

2020-02-05 17:47:42
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https://confit.atlas.jp/guide/event/jsap2020s/subject/14a-A410-7/detail

1 0 0 0 OA 4H-SiC中1SSF・PD起因フォトルミネッセンス減衰時間の温度依存性

著者: 片平真哉市川義人原田俊太木本恒暢加藤正史
出版者: 応用物理学会
雑誌: 2017年第64回応用物理学会春季学術講演会
巻号頁・発行日: 2017-02-03

2017-02-28 17:57:24
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https://confit.atlas.jp/guide/event/jsap2017s/subject/15a-F204-12/detail

1 0 0 0 OA n型4H-SiC中SSF起因フォトルミネッセンスの時間分解測定

著者: 加藤正史片平真哉市川義人市村正也原田俊太
出版者: 応用物理学会
雑誌: 2016年第77回応用物理学会秋季学術講演会
巻号頁・発行日: 2016-07-22

2016-09-01 12:02:44
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https://confit.atlas.jp/guide/event/jsap2016a/subject/15p-C302-11/detail