- 著者
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畠山 一実
- 出版者
- 一般社団法人電子情報通信学会
- 雑誌
- 電子情報通信学会技術研究報告. CPM, 電子部品・材料 (ISSN:09135685)
- 巻号頁・発行日
- vol.103, no.645, pp.35-40, 2004-01-29
ITC(International Test Conference)は世界最大のテスト技術の国際会議である。毎年100件を超える論文発表があり1000名以上が参加する。このITC関して,昨年10月に開催されたITC2003の概要を紹介するとともに,ロジックテスト分野をメインに,一昨年のITC2002の発表論文と比較することによりテスト技術の研究開発動向を概観する。