- 著者
-
三浦 光
萱野 良樹
宮永 和明
井上 浩
- 出版者
- 一般社団法人電子情報通信学会
- 雑誌
- 電子情報通信学会技術研究報告. EMD, 機構デバイス (ISSN:09135685)
- 巻号頁・発行日
- vol.107, no.534, pp.29-32, 2008-02-29
- 被引用文献数
-
2
電気接点の開閉時に発生するアーク放電は電磁ノイズの発生源となるため,EMCは寿命,信頼性などと同様に重要な評価パラメータである.本論文では外部磁界の影響を明らかにするために,磁界印加時の銀接点低速開離1回目の最初に発生する短時間アークに着目し,電流ノイズ計測を行った.アーク継続時間と持続電圧の関係から,30mT印加時には無印加と比べてアーク継続時間が平均1桁,持続電圧が平均1V減少することを明らかにした.また最初の短時間アークの電流ノイズは継続時間が長いほど増加することが明らかとなった.