- 著者
-
川上 大介
阿部 俊一
- 出版者
- 日本信頼性学会
- 雑誌
- 日本信頼性学会誌 : 信頼性 (ISSN:09192697)
- 巻号頁・発行日
- vol.17, no.6, pp.68-71, 1995-11-10
機器の使用時間Xと使用回数Yが共に機器の劣化に影響を与える場合、XとYから合成されたストレスZによって機器故障が起こるというモデルが、ある一定の条件を満たせばXのみまたはYのみを考慮した場合の最適予防保全計画よりも費用が小さくなることが示されている。そこで本報告では前報告の結果をさらに般化し、また、ある具体的な事例を取り上げ、Zの確率分布がワイブル分布で、観測データが両側から打ち切られた2変量不完全データの場合の計算例を示す。