著者

青木 雄一 河合 秀己 奥山 新

出版者

一般社団法人 エレクトロニクス実装学会

雑誌

マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集 第22回マイクロエレクトロニクスシンポジウム (ISSN:2434396X)

巻号頁・発行日

pp.187-190, 2012 (Released:2020-08-12)

著者

ピエ ラファエル 平田 拓哉 河合 秀己 青木 雄一

出版者

日本信頼性学会

雑誌

日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Spring Symposium on Reliability

巻号頁・発行日

vol.25, pp.31-34, 2017-05-31

著者

青木 雄一 岡本 学 増田 淳 土井 卓也

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会技術研究報告. R, 信頼性 (ISSN:09135685)

巻号頁・発行日

vol.110, no.298, pp.5-8, 2010-11-12

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結晶系太陽電池モジュールの熱疲労寿命を早期に評価するため,急速温度サイクル試験と当該試験環境下での抵抗値の連続測定を行った.その結果,比較的早期に抵抗値の顕著な増大が観察された.また,劣化した試料の解析により,直列抵抗の増大に帰結する劣化要因が確認された.これらにより,本試験法および測定法が,モジュールのはんだ接合部劣化を短期間で検出する方法となる可能性が示された.