- 著者
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近藤 一博
岡 直美
- 出版者
- 東京慈恵会医科大学
- 雑誌
- 基盤研究(B)
- 巻号頁・発行日
- 2022-04-01
うつ病などのストレス関連疾患の原因としてストレスレジリエンスの低下が重要視されている。しかし、ストレスレジリエンスのメカニズムには不明な点が多い。最近我々は、ヒトヘルペスウイルス6(HHV-6)が潜伏感染時に産生するタンパク質SITH-1を発見し、HHV-6 SITH-1がストレス応答を亢進させることで、うつ病の原因となることを見いだした。本研究は、SITH-1によるストレスレジリエンス低下機構の生物学的側面を明らかにし、ストレス関連疾患予防のための分子基盤を得ることを目的とする。