著者

野中 誠

出版者

東洋大学

雑誌

若手研究(B)

巻号頁・発行日

2011

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信頼性の高いソフトウェアを開発するための技法の一つとして,開発過程で得られた欠陥データにレイリーモデルを適用して総欠陥数を予測する技法がある。本研究では、レイリーモデルを適用した場合に総欠陥数の予測値が実績値を下回る矛盾に対して、条件付き確率の概念を適用する方法を示した。その結果、指標によっては予測誤差も減少することを示した。また、欠陥予測に影響する要因として、欠陥の混入工程に影響する要因と、単体テストの欠陥見逃しに影響する要因について分析した。その結果、方式設計では仕様変更の可能性が、詳細設計では要求性能の難易度が、単体テストの欠陥見逃しにはモジュール規模が影響することを示した。