Ceek.jp Altmetrics (α ver.)
文献ランキング
合計
1ヶ月間
1週間
1日間
文献カレンダー
新着文献
すべて
2 Users
5 Users
10 Users
新着投稿
Yahoo!知恵袋
レファレンス協同データベース
教えて!goo
はてなブックマーク
OKWave
Twitter
Wikipedia
検索
ウェブ検索
ニュース検索
ホーム
文献詳細
2
0
0
0
OA
半導体デバイスの裏面研削技術
著者
石川 一政
小林 一雄
出版者
公益社団法人 精密工学会
雑誌
精密工学会誌
(
ISSN:09120289
)
巻号頁・発行日
vol.73, no.7, pp.764-767, 2007 (Released:2009-12-10)
被引用文献数
1
1
言及状況
変動(ピーク前後)
変動(月別)
分布
外部データベース (DOI)
0
Mendeley
DOI Chronograph
Google Scholar
Twitter
(2 users, 2 posts, 2 favorites)
メモ BSG(BG)における番手とSTEM像の関係他 https://t.co/rNV3LyEPUW
と思ったら普通のロジック半導体チップ製造プロセスでも薄化はするのね とはいえ、特に薄化が伸びてるということは、他より抜きんでる何かがあったか 3D化? シリコンウエーハの薄化、個片化プロセスと抗折強度 https://t.co/1ZJgDmmvs1 半導体デバイスの裏面研削技術 https://t.co/XxBsfItpA4 https://t.co/JtSwBlDJx6
収集済み URL リスト
https://www.jstage.jst.go.jp/article/jjspe/73/7/73_7_764/_pdf
(2)