著者
蔭山 和則 須田 俊宏
出版者
一般社団法人 日本内科学会
雑誌
日本内科学会雑誌 (ISSN:00215384)
巻号頁・発行日
vol.97, no.4, pp.743-746, 2008 (Released:2012-08-02)
参考文献数
7
被引用文献数
1 2

副腎機能低下症の原因には,原発性と続発性副腎機能低下症がある.続発性の原因には,視床下部性と下垂体性があり,原発性を含めた原因局在の決定のため負荷試験が有用である.一般的には,現在,corticotropin-releasing hormone(CRH)負荷試験とインスリン低血糖刺激試験(ITT)が行われることが多い.原発性副腎皮質機能低下症は,ACTH試験によって副腎皮質の予備能の低下を証明する必要がある.ストレス時の副腎皮質の予備能を評価しておくことは,副腎クリーゼ予防に重要である.それぞれの検査の意義を良く理解した上で,安全に行われるのが望ましい.

言及状況

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@hajiro826 私は素人なので内分泌系は特にご説明できません
@Kiki62872542 副腎機能、コルチゾールの分泌能についてはそこにプラスで、インスリン低血糖試験(ITT試験)をするのが、王道っぽいですよ! インスリン低血糖を行っても、血中のコルチゾール値が一定値に達しない場合は視床下部性っていうかんじですね… https://t.co/tcsvrgoHWv
ACTH負荷試験の判定基準を調べてました。もう少し臨床的なアプローチをしてくれると、、https://t.co/kPBEe2cI6x

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