著者

吉村 正義 細川 利典 太田 光保

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-情報処理 (ISSN:09151915)

巻号頁・発行日

vol.86, no.12, pp.884-896, 2003-12-01

参考文献数

10

被引用文献数

4

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LSIの回路規模の増大により,フルスキャン設計方法によるテスト実行時間が重要な問題となっている.本論文では,フルスキャン設計されたLSIに対して,テストポイント挿入を行うことによって,ATPGパターン数を削減する方法を提案する.ATPGパターン数を削減する方法として,改善故障検出確率に基づくテストポイント挿入アルゴリズムと改善値割当確率に基づくテストポイント挿入アルゴリズムを提案する.提案した方法をいくつかの実際のLSIに適用したところ,LSI中の全FF数の0.4〜2.2%のテストポイントを追加することによって,ATPGパターン数を従来のフルスキャン設計と比較して,48〜78%削減することができた.