著者

窪野 隆能

出版者

一般社団法人電子情報通信学会

雑誌

電子情報通信学会論文誌. C, エレクトロニクス (ISSN:13452827)

巻号頁・発行日

vol.83, no.4, pp.300-307, 2000-04-25

被引用文献数

26

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継電器に搭載した3.6mmφAg/CdO12wt%電気接点(開離力0.15〜0.18N, 接点間隙(げき)0.8〜1.0mm)を直流30V-10Aの抵抗性回路内で閉成責務電気接点として使い, 閉成責務動作ごとにバウンス回数, アーク継続時間, 接触抵抗や背面温度を測定し, 更に陰極面上に形成される転移突起の成長過程を撮影した.数千回の閉成責務動作で丘状の転移突起は肉眼で確認できるほどに成長し, 動作回数が更に増すとその突起は石筍(じゅん)形状で高くなる.閉成責務動作が1万回以上になると動作回数の増加とともに, 石筍形状の突起高さHの成長率は鈍化し, しかも突起の根本太さDfはさほど変動しない.転移突起を成長させる閉成時アークは, 閉成責務動作ごとのアーク継続時間が200〜500μsであっても, 数万回の閉成責務動作(積算アーク継続時間では8〜10s)で分離不良を起こすほどに転移突起を高くすることがこの実験で明白となった.分離不良を起こした試料から, 「電気接点が分離不良を起こす際の突起形状は, 曲がった石筍タイプであり, H/Df≧0.5でかつH/間隙≧0.5である」と判断できる結果が得られた.